Investigadores del Rensselaer Polytechnic Institute de Nueva York han desarrollado una técnica de medición que ayudará a los científicos y a las compañías a trazar mapas de los nanomateriales mientas éstos crecen. Esta técnica facilitaría, entre otras cosas, la creación de nanotecnologías más avanzadas o de paneles solares más eficientes.

El sistema delinea el mapa de la superficie de un nanomaterial cuando éste crece. Utilizando una tecnología ya existente, proporciona así una imagen muy clara de cómo perfeccionar y duplicar el crecimiento de un nuevo nanomaterial sin tener que pasar meses tipificando sus estructuras tras dicho crecimiento.

En concreto, se usó una técnica denominada técnica de difracción de electrones de alta energía que crea un patrón de interferencia en la superficie del nanomaterial. Este patrón contiene sólo información parcial de dicha superficie, pero los científicos consiguieron, rotando el sustrato en el que el nanomaterial estaba creciendo, un diagrama que contenía la información completa de éste.

Conociendo el diagrama de su orientación y de su morfología, el material nanométrico resultaría más predecible y, por tanto, más controlable y manipulable. La nueva técnica permitirá a los investigadores crear un material, observar cómo éste se forma, y después recrear la mejor versión sin necesidad de experimentos demasiado extensos.

Más información