Nuevo método para obtener parámetros de materiales cristalinos por difracción




Investigadores de la Universidad de Cádiz (UCA) han desarrollado una nueva y precisa técnica para medir con haces de electones algunos parámetros de materiales cristalinos. Estos materiales se utilizan para fabricar semiconductores y cerámicas avanzadas.



Fuente : http://www.agenciasinc.es/Noticias/Nuevo-metodo-pa...

Jueves, 3 de Mayo 2012
Jueves, 1 de Enero 1970
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